1. BET: voornamelijk gebruikt voor het testen van de specifieke oppervlakte van materialen, die informatie kan verstrekken over de specifieke oppervlakte van materialen.

2. CV: de CV-curve kan worden getest om veel informatie te verkrijgen, zoals de vereiste elektrodepositiespanning, stroom, en de halfgeleiderindustrie kan DC-biasspanning verkrijgen.

3. EIS: EIS is een elektrochemische impedantiespectroscopieproef die elektrodepotentieel en impedantiegegevens kan verkrijgen, waardoor de interne serieweerstand, parallelle weerstand,en capaciteitsgerelateerde informatie van het systeem.

4. FTIR: voornamelijk gebruikt voor het testen van polymeerorganische materialen, het bepalen van de aanwezigheid van verschillende polymeerbindingen en het bepalen van de structuur van het materiaal.

5Raman: wordt gebruikt om de structuur van materialen te bepalen door rotatie- en trillingsenergie te meten.

6. SEM: oppervlaktemorfologie en morfologische kenmerken van materialen.

7. TEM: oppervlaktemorfologie en kristalliniteit van het materiaal.

8. XRD: test voornamelijk de fysische eigenschappen en de kristallenstructuur van materialen. Geavanceerde XRD kan ook de samenstelling van materialen met verschillende kristallenvormen testen.

9. Massaspectrometrie: voornamelijk gebruikt voor het bepalen van de chemische samenstelling van materialen, met inbegrip van vloeibare fase massa spectrometrie en meteorologische massa spectrometrie.